WCA July 2017

( Fe )。铁原子核内有 26 个质子。所述 26 个质子的 X 射线衰减 比来自碳的 6 个质子的衰减高得多，这使得 X 射线图像中的两 种材料之间产生了完美的对比。

光学技术

在光学检查中，光照起着至关重要的作用。我们通过现代摄 影技术(光学、红外、彩色照相机)实现了用工业速度精确记 录材料流。我们使用类似于用于 X 射线检查的图像处理软件来 检测光学系统的污染。通过设定一定的阈值，从而分离在数 学算法中高于阈值的所有污染颗粒。 X 射线和光学技术检测到的典型污染物 X 射线技术和光学技术的结合使我们能够检测到颗粒内部和 其表面上的污染(图 4 )。 X 射线系统检测透明和有色(例如黑 色)颗粒以及用于杂质的半导体 XLPE 材料。用 X 射线检测的典 型杂质是金属，以及颗粒内的有机污染物和不同质二氧化钛 ( TiO 2 )。此外，光学系统可检测例如颗粒、异物和颗粒上的 黑点以及其它有机或金属污染物。

生产线上的整合系统 该系统通常安装在从 XLPE 进料斗和 HPTE 供应器(纸箱、袋或 料仓)和挤出机的料斗之间，原料通过重力进料。

❍ 图 5 : 脱机检查与分析系统

结合以上所有优点，使用引进的技术进行 XLPE 和 HPTE 材料 的质量控制对于确保高质量的 MV 和 EHV 电缆至关重要。同 时，通过确保高纯度的 XLPE 和 HPTE 材料，也可以节省出重 新制造放电试验失败的电缆费用，这在很大程度上提高了电 缆生产线的效率。

在线和离线检查，分析颗粒、 薄片和胶带/薄膜

除了在线检查和分选设备之外，还有模块化设计的系统可 用于粒状、片状和胶带/薄膜的在线和离线检查和分析。这 些系统可用于少量生产以及有足够样品进行测试的生产线 或者用于进货控制。根据应用情况，系统选配备 X 射线技术 ( X )、红外技术( IR )或光学传感器( V )，用于直径 50μm 的 污染物的生产或样品测试。例如，具有 X 射线技术的实验室 检查和分析设备(图 5 )可以检查放置在托盘上的多达 3,000 个颗粒( 200ml )。这些颗粒的污染检查在几秒钟内完成。 随后，受污染的颗粒在屏幕上突出显示，这使得单独污染物 的提取更加容易。 对于综合过程的优化，电缆制造商将在线检查、分选系统与 脱机检查、分析设备相结合。一旦检测出污染的颗粒并整理 出来，实验室系统再次检查这些颗粒，并以光刻的方式标记 污染物，以便容易地分离所有废料。在线和离线检查和分析 的这种交互能够控制材料纯度，并创建数据库以防止将来的 污染。 结论 总结，本文概述了 MV 和 EHV 电缆绝缘需要使用高纯度 XLPE 和 HPTE 材料的原因。此外，本文介绍了 XLPE 和 HPTE 的在线 和离线质量控制系统，在开工前对材料进行检查。 所提供的检查和分选系统检测污染的颗粒，并在进入挤出过 程之前将其分离。原料中可能存在污染，也可能在处理和运 输阶段产生污染。因此，即使电缆制造商继续使用筛网，该 技术可确保筛网不会被污染颗粒中的杂质堵塞，从而提供更 长且安全的生产运行周期。通过使用 X 射线和光学技术，检测 到颗粒内部和外部的污染物，这 100% 地保证了质量控制。利 用离线检查和分析系统甚至可以改进在线检测系统分离生产 过程中的污染颗粒。材料纯度可控，系统分析提供信息以防 止未来可能的污染。

参考文献

[1] 1988 年电气绝缘会议论文， 1988 IEEE 国际研讨会 2010 年 7 月会议纪要， S Belli 、 G Perego* 、 A Bareggi 、 L Caimi 、 F Donazzi 、 E Zaccone 、 Prysmian SpA 、 P-Laser ：电力电缆系统的突破 [2] http://www.leadercable.com.my/dl/leader-xlpe.pdf [3] 中国 IEC 62067 标准( 150-500kV ) J Kjellqvist 、 K P Pang 、 S Miao 、 Dow Europe 股份有限公司，瑞士豪尔根；陶氏化学(中国)有限公司，中国上海；确 保高压和超高压电缆可靠性的性能，中国国际供电会议 ( CICED 2010 ) 南京 ( 2010 年 9 月 20 日至 23 日)

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Wire & Cable ASIA – July/August 2017